ILT-100 
  • 本測定器は、MOS-FET素子のL負荷によるターンオフ時の波形を監視し、設定されたV-GATE、IL、IHで規定された
  • Vsusエリアの保証をGO/NO判定する自動測定器です。
  • また、PCを接続しプログラムの編集、管理、その他インターフェイス設定等を行うエンジニアモードとして使用出来るほか、
  • PCを取外し本器のみでプログラムの選択、インターフェイスの選択等オペレータモードとしてオフラインで使用が可能である。





  
                                                  

                                               パソコンは、オプションとなります。 


  
 ILT-100(Control Unit) W430×D450×H220   
 ILTH-10(Testing Unit) W150×D250×H200(コイル含む)   
本器CPU  SH2(CPUクロック 100MHz)   

                                             
測定対象デバイス   N-MOSFET
P-MOSFET
ドレイン電流(ID) 0.5A〜20.0A
ドレイン電圧(VD) 10.0V〜50.0V
ゲート順電圧(VGS) 0.0V〜20.0V
ゲート逆電圧(VGR) -0.0V〜-20.0V
エリア指定電流(IH/IL) 0.2A〜20.0A
Vsusリミット(V-GATE) 10V〜1000V
測定結果 分類表示/
PASS・OPEN・SHORT・REJECT
測定方法 1素子測定(2素子切替測定「※1」)
制御 PC(USB I/F).
Offline(本器CPU)
インターフェイス HANDLER.EXT.RS232C.
GP-IB(option) 
「※1」Testing Unit;ILTH-20を使用する場合。
 
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