SETS-200 
  • 本測定器は、トランジスタ、FET、ダイオード等の個別半導体の特性(主に静特性)をハンドラあるいはプローバを介し、
  • 高速で測定し良否判定を行う自動測定器です。  
                                                     パソコンは、オプションとなります。

                                             
 SETS-200(テスタ本体) W430×D520×H380   
 SHD-230(テストヘッド) W66×D460×H330   
測定対象デバイス
         
トランジスタ 標準
ダイオード 標準
FET 標準
SCR 標準
3端子レギュレータ 標準
その他リニアIC
最大電圧 DC出力 1200V
最大電流 パルス出力 20A
DC出力 1A
リレー時間 1.0mS or 2.5mS
(選択要)
測定時間 標準的トランジスタにおいて 20mS〜50mS
測定ユニット 1
測定回路 Bias数/桁数 4/4桁
検出数/桁数 2/5桁
高電圧電源 ±1.2KV/50mA
低電圧電流源 40V/20A
V-I Source
AC電源 周波数1KHz固定
測定方式 同期パラレル測定 簡易(※1)
2分割測定 不可
測定ステーション ハンドラ接続台数 4
校正 手調整
Item作成 ユーザーによる 不可(※2)
(※1)同一項目でのパラレルとなります。ジャンプ機能は使用できません。
(※2)新規Itemは、メーカーでの作成となります。   
 
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